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作為中國(guó)第三方檢測(cè)與認(rèn)證服務(wù)的開(kāi)拓者和領(lǐng)先者,CTI華測(cè)檢測(cè)為全球客戶(hù)提供一站式檢驗(yàn)、測(cè)試、校準(zhǔn)、認(rèn)證及技術(shù)服務(wù)。

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新聞資訊

芯片技術(shù)干貨|了解ESD測(cè)試平臺(tái)特色與寄生電容問(wèn)題

發(fā)布時(shí)間:2024-03-14 瀏覽次數(shù):2498

  CTI半導(dǎo)體檢測(cè)及分析中心,致力于為消費(fèi)品級(jí)、工業(yè)品級(jí)及車(chē)規(guī)級(jí)半導(dǎo)體行業(yè)客戶(hù)提供一站式測(cè)試、分析及認(rèn)證解決方案。目前實(shí)驗(yàn)室分別引入Thermo Fisher、HANWA ELECTRONIC雙品牌ESD測(cè)試平臺(tái)。


  Thermo Fisher MK4規(guī)格


  Thermo Fisher MK4高管腳數(shù)ESD測(cè)試機(jī),可以滿(mǎn)足多管腳數(shù)芯片測(cè)試需求。


  相比傳統(tǒng)的Thermo Fisher MK2測(cè)試機(jī),Thermo Fisher MK4支持最高2304pins,避免了多余的轉(zhuǎn)板手續(xù),大幅提高了ESD測(cè)試效率。

  • 支持2304pin;
  • 滿(mǎn)足HBM/LU最新規(guī)范;
  • HBM最高測(cè)試能力達(dá)8KV;
  • LU測(cè)試有7組電源供應(yīng);
  • 內(nèi)建Curve Tracer可在ESD測(cè)試前、后進(jìn)行IV量測(cè);
  • 高電壓高電流+/-10V/10A 100V/1A;
  • 速度特快,10 pulse/Sec;
  • 支持QFN/QFP/SOP/SOT/BGA等封裝。


  HANWA ELECTRONIC N5000規(guī)格


  HANWA ELECTRONIC N5000專(zhuān)業(yè)檢測(cè)儀器,可進(jìn)行HBM/MM/Latch-up等專(zhuān)業(yè)檢測(cè)。其特色在于機(jī)臺(tái)到GND距離長(zhǎng)度極短,減少了繼電器寄生電容,提升了測(cè)試準(zhǔn)確性和可靠性。

  • 支持768pin;
  • 滿(mǎn)足HBM/LU最新規(guī)范;
  • HBM最高測(cè)試能力達(dá)8KV;
  • LU測(cè)試有7組電源供應(yīng);
  • 內(nèi)建Curve Tracer可在ESD測(cè)試前、后進(jìn)行IV量測(cè);
  • 高電壓高電流+/-10V/10A 100V/1A;
  • 速度與Thermo Fisher MK2一致;
  • 支持QFN/QFP/SOP/SOT/BGA/CSP等封裝。


  常見(jiàn)測(cè)試問(wèn)題答疑


  問(wèn):MK2和MK4是GND relay free的嗎?


  答:MK2和MK4不是GND relay free的設(shè)備,是用relay,對(duì)所有的Pin腳進(jìn)行接觸的設(shè)備。


  問(wèn):機(jī)臺(tái)GND relay寄生電容對(duì)MM,CDM波形有影響嗎?


  答:MM測(cè)試的時(shí)候,一般要使用socket board進(jìn)行測(cè)試。機(jī)臺(tái)在和Socket board接觸的時(shí)候,是relay進(jìn)行接觸的,所以MM的波形是受到寄生電容的影響的。但是,由于MM是200pF 0ohm的放電模型,放電電流會(huì)比較大,因此受寄生電容的影響會(huì)比HBM小一些。CDM在測(cè)試的時(shí)候不使用Socket board,所以不受寄生電容的影響。


  問(wèn):ESD HBM測(cè)試IO to IO時(shí),由于大部分pin都已經(jīng)接入,還會(huì)有寄生電容的影響嗎?


  答:對(duì)沒(méi)有接地的Pin來(lái)說(shuō),也是有可能產(chǎn)生比較大的寄生電容的,所以還是會(huì)受到寄生電容的影響。


  問(wèn):ESD寄生電容是從測(cè)試角度看的分析,但是從ESD保護(hù)角度看,GCMOS也會(huì)設(shè)計(jì)電容來(lái)保護(hù)電路,那么機(jī)臺(tái)對(duì)這種大電容芯片有好處還是壞處?


  答:無(wú)論是何種形式的保護(hù)電路,寄生電容都會(huì)有不好的影響。因?yàn)榧纳娙菔菍?dǎo)致HBM波形發(fā)生失真的原因,波形失真的話(huà),就不會(huì)得到滿(mǎn)足規(guī)范的測(cè)試。


  問(wèn):如何解決寄生電容問(wèn)題?


  答:在傳統(tǒng)的ESD測(cè)試中,寄生電容問(wèn)題一直是一個(gè)挑戰(zhàn)。MK4測(cè)試機(jī)采用繼電器進(jìn)行接觸,不是GND relay free設(shè)備,CTI華測(cè)檢測(cè)充分考慮到了這一點(diǎn),并提供了專(zhuān)業(yè)的解決方案。


  在HBM和MM測(cè)試中,CTI華測(cè)檢測(cè)使用Socket board進(jìn)行測(cè)試。雖然受到寄生電容的影響,但在CDM測(cè)試中,不使用Socket board,從而避免了寄生電容的影響。


  CTI華測(cè)檢測(cè)擁有ESD領(lǐng)域資深技術(shù)團(tuán)隊(duì),為客戶(hù)提供專(zhuān)業(yè)的測(cè)試報(bào)告和技術(shù)支持。CTI在上海、合肥、中國(guó)臺(tái)灣新竹等地設(shè)有ESD/LU實(shí)驗(yàn)室,配備專(zhuān)業(yè)的ESD檢測(cè)儀器,確保為客戶(hù)提供高質(zhì)量的ESD測(cè)試服務(wù)。

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