高溫反向偏壓（HTRB）試驗(yàn)旨在消除器件因制造異常產(chǎn)生的缺陷器件。如果沒(méi)有老化，這些缺陷器件將在正常使用條件下過(guò)早出現(xiàn)壽命故障。另外，在特定條件下運(yùn)轉(zhuǎn)半導(dǎo)體器件，以揭示由時(shí)間和應(yīng)力引起的電氣故障模式。

　　試驗(yàn)條件

　　AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)要求在規(guī)定的最大直流反向電壓下1000小時(shí)，同時(shí)調(diào)整結(jié)溫以避免熱失控，允許將環(huán)境溫度TA從Ta（MAX）向下調(diào)整。

　　標(biāo)準(zhǔn)要求同時(shí)測(cè)試3批*77顆器件，過(guò)程中實(shí)時(shí)監(jiān)控漏電流，老化前后也要測(cè)量靜態(tài)參數(shù)。通常會(huì)制作各種專用老化板匹配不同封裝器件加電老化，保證結(jié)果的準(zhǔn)確性。

　　試驗(yàn)前的電性能參數(shù)

　　試驗(yàn)前后要進(jìn)行基本的靜態(tài)參數(shù)測(cè)量，參考以下表一和表二，所有器件性能參數(shù)必須符合用戶零件規(guī)范的要求。

　　表一：

　　表二：

　　失效判定

　　a.應(yīng)符合用戶的零件規(guī)范中定義的性能參數(shù)要求規(guī)定；

　　b.試驗(yàn)后電性能參數(shù)應(yīng)保持在初始值的±20%；

　　c.允許的泄漏電流不超過(guò)測(cè)試前初始值的5倍；

　　d.器件外觀不可以出現(xiàn)任何物理?yè)p壞。

　　試驗(yàn)設(shè)備及參數(shù)

　　溫度范圍：室溫+20℃～200℃

　　通道：16通道，8組電壓控制

　　電壓：2000V Max

　　尺寸：630寬×640高×600mm深

　　CTI華測(cè)AEC-Q測(cè)試服務(wù)

　　CTI可以提供AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q103、AEC-Q104、AEC-Q200等多系列的認(rèn)證與檢測(cè)服務(wù)。

　　CTI還可以提供集成電路、PCB/PCBA、電子輔料等全面的性能檢測(cè)，可靠性驗(yàn)證，失效分析等服務(wù)。

　　CTI擁有專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，可以根據(jù)自己的產(chǎn)品測(cè)試需求制定合適的測(cè)試方案，可以為您提供一站式解決方案。