CTI半導(dǎo)體檢測及分析中心，致力于為消費品級、工業(yè)品級及車規(guī)級半導(dǎo)體行業(yè)客戶提供一站式測試、分析及認證解決方案。目前實驗室已引入“賽默飛世爾科技ThermoFisher Scientific”與“阪和電子工業(yè)HANWA Electronic Ind.Co.Ltd.”雙品牌ESD測試平臺。同時，實驗室可提供TLP（傳輸線脈沖）測試服務(wù)。

　　TLP(Transmission Line Pulse Application）

　　TLP（傳輸線脈沖）測試是一種用于評估ESD（靜電放電）保護裝置的高度專業(yè)的方法。

　　基本原理是利用脈沖電流模擬ESD事件，以測量器件在不同應(yīng)力條件下的電壓和電流響應(yīng)。通過TLP測試，我們可以獲取器件的IV（電流-電壓）特性曲線，這對于理解器件的動態(tài)響應(yīng)以及評估其在ESD事件下的性能至關(guān)重要。

　　PART 1：TLP測試的優(yōu)勢

　　TLP測試的關(guān)鍵優(yōu)勢之一是其高電流脈沖能力，與傳統(tǒng)的ESD測試相比，TLP測試可以生成高達幾安培的脈沖電流，能夠提供更真實的ESD事件模擬。這種高電流脈沖更接近于實際ESD事件中的電流水平，對于評估器件在ESD事件中的真實響應(yīng)至關(guān)重要。

　　在TLP測試中，二次擊穿電流（It2）是一個重要的參數(shù)。It2代表了器件能夠承受的最大ESD電流。一旦ESD電流超過了It2，器件就可能會損壞，從而導(dǎo)致永久性失效。因此，準確測量和理解It2對于評估器件的ESD保護性能至關(guān)重要。

　　除了It2之外，TLP測試還提供了其他重要的信息，例如器件的開啟特性、急變返回特性和保持特性。這些信息反映了器件在ESD事件中的動態(tài)響應(yīng)和穩(wěn)定性，對于評估器件的全面性能至關(guān)重要。

　　PART 2：TLP設(shè)備原理

TLP測試的IV曲線

　　PART 3：TLP設(shè)備

　　PART 4：TLP設(shè)備規(guī)格

• 　　Thermo ScientificTM Celestron
• 　　Pulse voltage：0V—±2000v,in 0.2V/step；
• 　　Pulse current：Maximum 40A；
• 　　Pulse width：Fixed at 100nsec；
• 　　Pulse rise time：10nsec；
• 　　Leakage measurement：50 pA。

　　CTI可提供的一站式ESD測試方案，實驗室內(nèi)配有多項靜電防護測試設(shè)備，滿足產(chǎn)業(yè)客戶各類靜電防護測試需求。