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汽車芯片電子可靠性試驗

車用電子協(xié)會(AEC，Automotive Electronics Council)為了讓電子組件的驗證有一個共同的參考驗證內(nèi)容，因此根據(jù)產(chǎn)品類別陸續(xù)制定了不同驗證標準，讓各家電子組件廠商欲進入車用市場時，有一個適當?shù)尿炞C基礎(chǔ)。CTI華測檢測可您提供汽車芯片電子可靠性試驗，包括AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q200、AEC-Q104等多個系列的測試認證服務(wù)。

? 服務(wù)背景

　　車用電子協(xié)會(AEC，Automotive Electronics Council)為了讓電子組件的驗證有一個共同的參考驗證內(nèi)容，因此根據(jù)產(chǎn)品類別陸續(xù)制定了不同驗證標準，讓各家電子組件廠商欲進入車用市場時，有一個適當?shù)尿炞C基礎(chǔ)。

　　在AEC的相關(guān)規(guī)范中，明確定義，沒有所謂的認證(Certification)的機制，強調(diào)是屬于自我宣告以及買賣雙方的合約，強調(diào)產(chǎn)品家族觀念，并且重視制程質(zhì)量管控(SPC)的要求，標準嚴格更甚于傳統(tǒng)以JEDEC為驗證主軸的消費型產(chǎn)品市場。

? 汽車芯片電子可靠性試驗

　　▌AEC驗證分類

　　1.AEC-Q系列驗證分類

　　根據(jù)零件群組類別進行區(qū)分。其中AEC-Q103為2019年度新公告針對MEMS相關(guān)產(chǎn)品之測試應(yīng)用，使得整體應(yīng)用上更為完整。

AEC-Q系列車用電子產(chǎn)品驗證	AEC-Q100 Integrated Circuit
	AEC-Q101 Discrete Semiconductors
	AEC-Q102 Photo-electronics
	AEC-Q103 MEMS
	AEC-Q104 MCM
	AEC-Q200 Passive Components

　　2.產(chǎn)品耐溫等級

　　根據(jù)零件在車輛使用的位置區(qū)分為四個等級，與傳統(tǒng)使用的JEDEC 47不同處在于，AEC定義為測試環(huán)境溫度Ta，非Tj，因此相對嚴苛，也使得欲進行驗證之廠家多了一些難度與門坎。

Grade	Ambient Operation Temperature Range
0	-40°C to +150°C
1	-40°C to +125°C
2	-40°C to +105°C
3	-40°C to +85°C

　　▌ AEC-Q系列與JEDEC 47的比較

Description	JEDEC 47	AEC Q100
Test items	以試驗項目為主	自開發(fā)至試驗
Test sample size	相對較少	相對較多
Test duration / cycles	較短	較長(以使用壽命回推)
Temperature	采用產(chǎn)品Tj	采用環(huán)境Ta
Data collection	以承認為主	自產(chǎn)品開發(fā)開始
Family application	有定義	定義含括范圍
Engineering change	明確定義	明確定義
Life prediction	說明較簡易	明確定計算方式
SPC calculation	較少	強調(diào)應(yīng)用
Pb-Free consideration	較少	納入驗證標準
DPA process	未提及	納入驗證標準
Criteria	較簡易	允收規(guī)格明確

? 服務(wù)優(yōu)勢

CTI華測檢測著重于半導體產(chǎn)品領(lǐng)域驗證，結(jié)合失效分析、ESD靜電測試、硬件設(shè)計服務(wù)、可靠性試驗等，形成一個完整的服務(wù)網(wǎng)絡(luò)，協(xié)助客戶快速進入車用電子市場。除了產(chǎn)品質(zhì)量驗證外，CTI華測檢測并提供教育訓練與系統(tǒng)輔導機制，確保整個產(chǎn)品開發(fā)過程詳實完整。

? 服務(wù)流程

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