h&

權(quán)威公正傳遞信任
彰顯品質(zhì) 創(chuàng)造價值

首頁 > 我們的服務(wù) > 測試服務(wù) > 芯片及半導(dǎo)體 > 失效分析 > 服務(wù)詳情

掃描式電子顯微鏡 (SEM) & EDS

CTI華測檢測可提供先進的掃描式電子顯微鏡（SEM）與能量色散光譜儀（EDS）分析技術(shù)，旨在為客戶提供材料表面形貌、微觀結(jié)構(gòu)以及化學(xué)成分的綜合分析。通過SEM的高分辨率成像和EDS的元素分析功能，我們能夠揭示材料的微觀世界，為科研、工業(yè)檢測、產(chǎn)品開發(fā)等領(lǐng)域提供強有力的技術(shù)支持。

? 掃描式電子顯微鏡(SEM)&EDS

　　CTI華測檢測可提供先進的掃描式電子顯微鏡（SEM）與能量色散光譜儀（EDS）分析技術(shù)，旨在為客戶提供材料表面形貌、微觀結(jié)構(gòu)以及化學(xué)成分的綜合分析。通過SEM的高分辨率成像和EDS的元素分析功能，我們能夠揭示材料的微觀世界，為科研、工業(yè)檢測、產(chǎn)品開發(fā)等領(lǐng)域提供強有力的技術(shù)支持。

? 應(yīng)用場景

　　觀察樣品表面

　　VC（Voltage contrast），利用明暗對比尋找異常

　　EDS可做定性與半定量的成份分析

? 服務(wù)設(shè)備