HTOL (High-Temperature Operating Life) 即高溫壽命測(cè)試，通過(guò)溫度、電壓激活失效機(jī)制來(lái)評(píng)估芯片可靠性的測(cè)試方法。

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)范

JESD22-A108、AEC-Q100、MIL-STD-883、GJB 548等。

測(cè)試方法

• 樣品數(shù)量：通常滿足3個(gè)不同批次各77EA樣品。
• 溫度設(shè)置：依照J(rèn)ESD22-A108、AEC-Q100 等標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置Tj(結(jié)溫)或Ta(環(huán)溫)，如常見(jiàn)Tj ≥125℃或Grade0≥150℃。
• 電壓設(shè)置：滿足≥Max工作電壓，注意在加速電壓測(cè)試不能超過(guò)對(duì)應(yīng)電源域Vbd電壓。

AEC-Q100 HTOL測(cè)試要求

• 監(jiān)測(cè)與記錄：一般采用168hrs、500hrs、1000hrs回讀數(shù)據(jù)，對(duì)比前后數(shù)據(jù)差異，如Vth、leakage、Ron等參數(shù)shift或是function、trim code失效等。
• 預(yù)估或計(jì)算：根據(jù)測(cè)試條件進(jìn)行壽命預(yù)估或失效率計(jì)算。

失效機(jī)制

氧化層破壞、電遷移、應(yīng)力遷移等。

CTI華測(cè)檢測(cè)服務(wù)能力

隨著芯片技術(shù)的日益復(fù)雜，從前期溝通、方案評(píng)估、硬件制作、調(diào)試驗(yàn)證、實(shí)驗(yàn)執(zhí)行到失效分析的全流程專業(yè)支持變得至關(guān)重要。

CTI華測(cè)檢測(cè)憑借豐富的項(xiàng)目實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn)，累計(jì)完成700+個(gè)項(xiàng)目，處理過(guò)管腳數(shù)高達(dá)2萬(wàn)9千多、最高功耗520W的芯片檢測(cè)，擁有自有硬件與驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)，能夠?yàn)榭蛻籼峁┮徽臼降娜鞒炭煽啃耘c失效分析服務(wù)。

STC HTOL不同設(shè)備能力