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超聲波掃描顯微鏡測試（SAT）

超聲波掃描顯微鏡（SAT）是透過反射、穿透、分散、材料變化與缺陷產(chǎn)生不同訊號，進而產(chǎn)生不同檢驗圖像作為分析。SAT運用各種不同頻率的探頭來做各種樣品的非破壞檢測，其可無損的檢測IC內(nèi)部結(jié)構(gòu)，可分層、多層掃描檢測IC內(nèi)部各項缺陷（裂紋、分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞、晶界邊界等），并檢測出IC表征和測量材料的屬性。CTI華測檢測為客戶提供優(yōu)質(zhì)、高效、專業(yè)的超聲波掃描顯微鏡測試服務(wù)，確保測試結(jié)果的準確性和可靠性。同時，我們將不斷優(yōu)化服務(wù)流程和技術(shù)手段，滿足客戶的不斷變化的需求。

? 服務(wù)背景

? 超聲波掃描顯微鏡測試（SAT）

　　應用場景

　　非破壞性、無損傷檢測內(nèi)部結(jié)構(gòu)
　　可分層掃描、多層掃描
　　可檢測各種缺陷（裂紋、分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞、晶界邊界等）
　　表征和測量材料屬性

　　設(shè)備參數(shù)

　　低頻：15MHz、25MHz、30MHz

　　中間：50MHz、75MHz

　　高頻：100MHz、120MHz、230MHz

　　檢測案例

? 服務(wù)優(yōu)勢

? 服務(wù)流程

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